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面向存算一体芯片的模拟计算阵列中芯片级内置自测试与自修复电路设计.docx
资料介绍
面向存算一体芯片的模拟计算阵列中芯片级内置自测试与自修复电路设计
——从BIST到BISR的存算一体芯片自测试与自修复方案
引言
内置自测试（BIST）和内置自修复（BISR）是存算一体芯片实现低成本测试和高良率的关键技术。在存算一体芯片中，BIST电路可以在芯片内部生成测试向量，执行测试操作，分析测试结果，无需外部测试设备。BISR电路可以在测试发现缺陷后，通过冗余修复，提高芯片的良率。本文系统分析面向存算一体芯片的模拟计算阵列中芯片级内置自测试与自修复电路设计。
BIST的基本原理
BIST的组成
BIST电路的组成：
1. 测试向量生成器：生成测试向量，包括功能测试向量和结构测试向量。
2. 测试响应分析器：分析测试响应，判断测试是否通过。
3. BIST控制器：控制BIST的执行流程，包括测试向量的生成、测试操作的执行和测试结果的分析。
BIST的优势
BIST相比外部测试的优势：
1. 低成本：BIST无需外部测试设备，降低测试成本。
2. 高速度：BIST在芯片内部执行测试，测试速度高于外部测试。
3. 在线测试：BIST可以在芯片运行过程中执行测试，实现在线测试和监控。
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