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边界扫描测试作业流程与操作规范
资料介绍
边界扫描测试作业流程与操作规范 一、缘起 我们来看边界扫描测试是怎么进入我工作视野的。那阵子产线上一款 BGA 封装的板子返修率特别高,芯片被封装在球底下,传统飞针和 ICT 根本碰不到内部引脚,出了问题只能靠猜。就在这个节骨眼上,我接触到了基于 JTAG 的边界扫描测试,才算找到了破解之道。 边界扫描的原理其实不难理解。我们来看,它在芯片内部为每个 I/O 引脚串了一条"移位寄存器链",测试时可以把信号从 TDI 口逐位灌进去,再从 TDO 口读出来,从而在芯片外部就能控制并观测内部每个引脚的状态,无需物理接触。 这个特性对高密度封装意义重大。我们来看,无论是 BGA、QFP 还是多层板,只要有边界扫描链,测试工程师就能在软件层面完成开短路检测、器件互连验证,甚至内部逻辑测试。这就是它成为高端板卡必备测试手段的根本原因。这篇手记,就把我从摸索到掌握边界扫描的全过程记录下来。 二、第一轮尝试 我们来看我的第一次尝试,其实相当狼狈。拿到一块带边界扫描的样板,我按手册配置好了 JTAG 链路,连上软件,结果扫描链读回来的全是异常数据。我以为是自己哪里配错了,反复检查器件 IDCODE 和链路顺序,依然对不上。 折腾了半天我才发现问题所在——链路里有一处器件没有正确进入边界扫描模式,或者某个 TAP 控制器状态没同步,导致整条链的移位错位。边界扫描最讲究的就是"整条链必须同步一致",任何一个环节脱节,后面读到的数据就全是乱的。 这一轮尝试让我明白,我们来看,边界扫描不是"连上就能测"那么简单。它有一套严格的时序与状态机约束,必须在 JTAG 的 TAP 状态机、移位方向、位长配置上全部对齐,否则测试结果毫无意义。这也是很多人上手边界扫描时碰到的第一堵墙。 三、遇到的坑 我们来看,摸索过程中我踩了几个典型的坑,逐个跟大家说说。第一个坑是位长配置错误。
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