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晶体管(BJT)直流参数的测量

更新时间:2019-06-14 08:48:49 大小:219K 上传用户:z00查看TA发布的资源 标签:晶体管bjt 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

一、试验目的

本实验从晶体管结构出发,以晶体管原理为基础,根据其特性曲线及特 性参数设计了该试验。通过测量晶体管的直流放大系数β、饱和压降 VCEO 、 反向饱和电流 IEBO 、ICEO 及反向击穿电压 BVEBO 、BVCEO 。可绘出晶体管输出 特性曲线。由这些参数及特性曲线的分析,既可判断出所测晶体管的性能好 坏及其在制作工艺过程中所存在的问题。 

二、试验原理 

晶体管通常是指半导体三极管(BJT ),它的种类很多。按照频率分, 有高频管、低频管;按照功率分,有大、中、小功率管;按照半导体材料分, 有硅管、锗管等等。BJT 是通过一定的工艺,将两个 PN 结结合在一起的器件。 这两个 PN 结按照它们的作用,分别叫做发射结和集电结。这两个结把晶体管 分为三个区域:发射区、基区和集电区 。由于这三个区域的导电类型不同, 又可分为 PNP 型 BJT 和 NPN 型 BJT 两种,

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