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3D NAND 技术详解

更新时间:2026-06-13 12:05:57 大小:16K 上传用户:潇潇江南查看TA发布的资源 标签:3d nand 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

一、什么是3D NAND

3D NAND是一种新型的非易失性闪存存储技术,和传统平面2D NAND不同,它通过将存储单元垂直堆叠的方式,突破了平面制程微缩带来的物理瓶颈,能够在相同的芯片面积下实现更高的存储容量,同时改善存储性能与功耗表现。

二、3D NAND的诞生背景

传统2D NAND依靠缩小制程节点来提高单颗芯片的容量,当制程进入1xnm节点后,开始面临无法解决的物理问题:

1. 浮栅电荷泄漏:单元间距缩小后,相邻单元之间的电荷干扰加剧,浮栅中存储的数据容易发生泄漏,导致数据保留能力下降,错误率上升。

2. 生产成本攀升:微缩制程带来的良率下降问题愈发明显,进一步提升容量的投入产出比持续恶化。

3. 性能瓶颈:平面结构下存储密度提升遭遇天花板,无法满足移动设备、数据中心对大容量、高性价比存储的需求。

为突破这些限制,存储厂商开发出了垂直堆叠存储单元的3D结构,也就是3D NAND技术。

三、3D NAND的核心结构与工作原理

1. 核心结构

3D NAND将原本在平面平铺的存储单元,沿垂直方向逐层堆叠,通过垂直沟道连接每一层的存储单元,主要结构分为:

· 堆叠存储层:每一层都包含独立的电荷存储单元,目前主流产品堆叠层数已经超过200层,部分厂商的实验室产品已经突破300层。

· 垂直沟道:贯穿所有堆叠层,为电荷传输提供通路,是决定堆叠良率和性能的关键结构。

· 栅极堆叠与字线:栅极控制存储单元的开关,字线沿水平方向分布在每一层,实现对单个存储单元的寻址。


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