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嵌入式系统在智能工业过程校验仪中的应用.docx
资料介绍
嵌入式系统在智能工业过程校验仪中的应用
一、引言
过程校验仪是工业仪表维护和校准的关键工具，用于输出和测量电压、电流、电阻、频率和温度信号，校验各类变送器和传感器。嵌入式系统在过程校验仪中负责信号生成、精确测量、回路供电和数据处理。过程校验仪对嵌入式系统的要求集中在高精度（±0.02%）、多信号类型支持、便携式电池供电和手持式操作上。
二、信号输出
电压输出：MCU 控制 DAC 输出 0-10V 或 0-100mV 电压信号，分辨率 16 位到 24 位。MCU 通过运算放大器缓冲 DAC 输出，驱动负载。
电流输出：MCU 控制 DAC 配合电压-电流转换电路输出 0-20mA 或 4-20mA 电流信号。MCU 支持无源电流输出（从外部回路取电）和有源电流输出（内部供电）。
热电偶输出：MCU 根据热电偶分度表计算热电势，通过 DAC 输出对应的电压，模拟热电偶信号。MCU 支持 K、J、T、E、S 型热电偶。
RTD 模拟：MCU 通过精密电阻网络模拟 PT100 或 PT1000 铂电阻，校验温度变送器。MCU 控制继电器切换电阻值。
三、精确测量
高精度 ADC：MCU 使用 24 位 Σ-Δ ADC 测量电压、电流和电阻信号。ADC 内置 PGA，可编程增益 1 到 128 倍。
自动量程：MCU 自动检测信号幅度，切换到最佳量程。MCU 支持 100mV、1V、10V、30V 电压量程和 20mA、100mA 电流量程。
回路供电：MCU 提供 24V 回路电源，为两线制变送器供电，同时测量变送器输出的 4-20mA 电流信号。
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| 159_嵌入式系统在智能工业过程校验仪中的应用.docx | 37K |
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