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复杂百万门集成芯片的DFT测试方案
大小：70K 更新时间：2021-07-06 下载积分：2分
本文介绍了复杂的百万门ASIC芯片Lugia中几个DFT相关问题的解决方案。 这些问题包括：1）用于测试的有限封装引脚; 2）扫描链穿过电源平面边界导致的功率泄漏; 3）DFT模拟样式选择，以节省模拟时间
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PADS中隐藏的12个小技巧解析
大小：828K 更新时间：2021-07-06 下载积分：2分
一、如何走蛇形线？蛇形线是布线过程中常用的一种走线方式，其主要目的是为了调节延时满足系统时序设计要求，但是设计者应该有这样的认识：蛇形线会破坏信号质量，改变传输延时，布线时要尽量避免使用，因此一块 PCB...
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详解门级组合电路和时序电路自动测试向量生成技术
大小：296K 更新时间：2021-07-06 下载积分：2分
集成电路的飞速发展使得测试的难度不断增加 ,而 A TPG技术在测试向量产生方面具有重要的意义 ,本文对该技术的发展及其所采用的方法进行了系统地介绍和分析. 针对门级的组合电路和时序电路的 A TPG方法具有许多相似之...
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针对超大规模集成电路设计的EDA工具原理解析
大小：14M 更新时间：2021-07-06 下载积分：2分
半导体制造技术的进步带来的新应用继续以惊人的速度增长。广泛的新产品，从高性能处理器到各种低功耗便携式设备，再到微型感应/通信/驱动芯片，促进了各种新的应用，这些应用已经改变并将继续改变我们的日常生活。然...
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