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USB2.0从物理层到协议层的测试方案
资料介绍
USB2.0从物理层到协议层的测试方案
概述
自从1995年UsB（Universal Serial Bus，通用串行总线）诞生起，由于UB接口的简单易用、支持热插拔、速度快等特点被广泛应用于当今的电子产品中，UB堪称是PC平台上最成功的WO技术，除FC及外设外，也成为打印机、手机及各种消费电子产品标准的扩展接口。USB标准规范历经多年的发展从第一代的10Low ped1.1Ful！eed，演进到20 High Speed标准，补充标准 On-The-Go（OTG）允许便携设备之间直接交换数据，在2008年底USB30 per speed规范也已经发布这些接口标准都是向下兼容的，接口速度也由15Mbps，12Mbps，480Mbps发展到5Gbp随着接口传输速度的提高，对于设计和开发者来说，信号完整性的问题也越来越突显，另外以串行的传输结构，在协议层和互操作方面也有更大的挑战。UsB F（USB Implementers Forun，U⊕B实施者论坛）制定了一致性测试规范，在电气层面、功能层面、互操作层面规定认证测试方案，并授权测试实验室认证测试，UsB相关产品通过测试取得UsB徽标的认证。这就要求UB开发人员能够在实验室研发阶段，进行满足一致性规范要求的预测试，及早的发现和解决问题，从而加快产品的量产速度。
USB20基本规范
UsB320规范定义了三种信号速率，分别是低速，全速和高速，电气特性下
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| USB2.0从物理层到协议层的测试方案.pdf | 1M |
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