您现在的位置是:首页 > 手册 > 数字测试原理
推荐星级:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

数字测试原理

更新时间:2015-03-20 16:24:48 大小:4M 上传用户:wuhen6790查看TA发布的资源 标签:测试原理方法 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

讲述了数字芯片测试的基本原理,测试项的介绍,及测试方法。

部分文件列表

文件名 大小
The_Fundamentals_of_Digital_Semiconductor_Testing_(chinese).doc 4M

全部评论(0)

暂无评论

上传资源 上传优质资源有赏金

  • 打赏
  • 30日榜单

推荐下载