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SPAD阵列技术概述

更新时间:2026-04-20 20:21:58 大小:20K 上传用户:潇潇江南查看TA发布的资源 标签:spad阵列 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

1. 技术定义与基本原理

单光子雪崩二极管(Single-Photon Avalanche Diode, SPAD)阵列是由多个SPAD单元集成的光电探测阵列,具备单光子级灵敏度的成像能力。其核心工作原理基于盖革模式(Geiger Mode)下的雪崩倍增效应:当反向偏压超过PN结击穿电压时,单个光子激发的载流子会触发自持式雪崩效应,产生可探测的电流脉冲。

SPAD阵列通过以下关键技术实现单光子探测:

· 淬灭电路:雪崩触发后迅速降低偏压以终止雪崩,典型响应时间<1ns

· 时间数字转换(TDC):记录光子到达时间,精度可达皮秒级

· 像素级集成:每个单元独立配置淬灭电路与读出电路

3. 制造工艺与技术挑战

3.1 主流制造工艺

当前SPAD阵列主要基于以下半导体工艺实现:

· CMOS工艺:主流技术路径,支持像素级电路集成,代表产品如Teledyne e2v的EV76C660

· SiGe工艺:提升近红外波段响应,适用于900-1550nm探测

· III-V族化合物InGaAs/InP材料体系,实现1.5μm波段单光子探测

3.2 关键技术瓶颈

· 串扰抑制:相邻像素雪崩产生的电荷扩散导致错误计数



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