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SoC电路的自动测试方法研究

更新时间：2020-10-27 15:30:30 大小：711K 上传用户：zhengdai查看TA发布的资源 标签：soc电路 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

片上系统SoC作为集成了多种类型外设、面向特定用途的标准产品,对其进行全面测试是保证产品能够可靠工作的必要环节,然而由于工作受内核控制,不能通过施加简单激励来得到期望状态进行测试。故此提出一种基于自动测试设备的SoC电路自动测试方法。通过介绍自动测试程序的开发流程,对启动程序和自动测试程序进行设计,建立起自动测试的实现方案。以C8051F500-IQ电路为例,在UltraFLEX自动测试系统实现了自动测试,测试结果表明该方案能够完成对电路功能与性能的全面评价。

SoC(System on Chip)is a standard product that integrates various types of peripherals and is oriented to specific applications.Comprehensive testing of SoC is a necessary link to ensure the reliable operation of the product.However,due to the control of the core,it is impossible to obtain the desired state for testing by applying simple incentives.Therefore,an automatic test method of SoC circuit based on automatic test equipment is proposed.By introducing the development process of the automatic test program,the starting program and the automatic test program are designed,and the realization scheme of the automatic test is established.Taking C8051F500-IQ circuit as an example,automatic testing is implemented in UltraFLEX automatic test system.The test results show that the scheme can complete a comprehensive evaluation of circuit function and performance.

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