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PTCR耐电压测试系统的研制
资料介绍
本课题结合科研、生产实际,针对目前国内PTCR元件生产厂家在PTCR耐电压特性测试这一工序上采用的设备自动化程度很低,生产效率极其低下,亟需改进这一现状.研制出了一套适合于工业生产的、高效、高可靠性、低成本、便于生产实际操作和维护的多工位PTCR耐电压特性测试系统.本系统不仅能用于PTCR耐电压特性的测试,还可以用于老化和耐雷电波冲击测试.系统硬件主要包括强电部分、核心控制模块、驱动模块、过流保护模块、键盘显示模块及计算机接口模块.强电部分主要由继电器、交流接触器作为执行元件,实现了由弱电控制强电,充分利用PTCR元件的阻温特性,采用顺序加压技术,避免了同时加压对供电网造成的巨大冲击.核心控制模块采用AT89C51单片机,是系统的控制核心,由它向系统各部件发号命令,协调各部分工作.作为核心此模块具有体积小、集成度高、工作稳定、反应速度快的特点,并且易于扩展和升级.驱动模块由CPLD (Complex Programmable Logic Device 复杂可编程逻辑器件)光电耦合器及驱动芯片等组成,用于输出驱动信号,控制执行元件工作.键盘显示模块主要由T6963C控制器、LCD (Liquid Crystal Display 液晶显示屏)和按键组成,模块设有数据与控制接口,用户可使用按键来设置系统运行的各个参数,单片机根据所设置的参数来确定系统的运行状态,并将各个参数的数值显示在液晶显示屏上,是系统与用户交互的平台.计算机接口模块是系统通信的接口,通过该模块本系统可以直接与外设进行通信,当与计算机相连时可以通过计算机来监控系统的运行,该模块主要由 MAX232 芯片组成.系统程序设计主要分为两个部分,一部分是对单片机编程,另一部分是对可编程逻辑器件编程.
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| PTCR耐电压测试系统的研制.pdf | 2M |
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