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资料介绍

NAND闪存存储阵列架构与读通路设计

1 引言

NAND闪存以存储串(NAND String)为基本单元,通过串联多个存储单元实现高密度存储。3D NAND的垂直堆叠架构使存储阵列从平面走向立体,数百层叠层的复杂结构对存储阵列设计、读通路和写管理提出了全新挑战。本章系统阐述NAND闪存存储阵列的电路架构、读通路设计原理和关键性能优化技术。

2 NAND存储串结构

2.1 基本单元结构

NAND闪存的基本存储单元是浮栅晶体管(Floating Gate)或电荷俘获型晶体管(Charge Trap)。在3D NAND中,电荷俘获型单元(使用Si₃N₄作为电荷存储层)占据主导地位,其栅极堆叠由阻挡氧化层(Al₂O₃)、电荷俘获层(Si₃N₄)、隧穿氧化层(SiO₂)和沟道多晶硅组成。

2.2 存储串连接

3D NAND中,64-256个存储单元串联形成一个NAND串,串的两端分别连接源极选择线(SSL)和漏极选择线(DSL)。存储串的沟道是垂直的多晶硅柱,各层字线(Word Line)环绕沟道形成栅极控制。


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