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LTE系统核心技术剖析及eNodeB测试方案探讨

更新时间：2018-11-30 00:00:20 大小：2M 上传用户：sun2152查看TA发布的资源 标签：lteenodeb测试 下载积分：0分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

总结

以高速率、低时延和最优分组为特点的LTE系统，将在未来通信系统中占据举足轻重的地位。LTE系统引进了很多新技术用以支撑LTE系统的指标要求，深刻剖析这些核心技术，才能正确指导LTE基站设备eNodeB的测试工作，完成对eNodeB设备的高效测试。本文分析了eNodeB的无线指标测试，硬件测试和软件测试的测试用例和测试方

法，重点研究了无线指标测试中的EM指标。LTE系统中由于OFDM调制方式的特点及对子载波正交性的特殊要求，使得eNodeB测试项中的E旨标更加恶化；为了保证接收端的正确解调，EVM测试也成为最为重视的测试项之一。本文分析了EM产生的原因以及影响EV指标的客观因素，在此基础上，本文提出了将EVM指标与功率相结合的有效测试方法，并建议了相关测试项与E测试相结合的具体测试方法，实现了对E的有效测试并保证eNodeB在正常工作过程中的性能。


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