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基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案设计

更新时间：2020-10-26 00:03:45 大小：2M 上传用户：gsy幸运查看TA发布的资源 标签：lk8810集成电路 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

集成电路产业已经成为我国重点发展产业。集成电路生产封装后都要先进行引脚开短路测试,从而尽早筛出失效芯片以缩短整体测试时长,提升经济效益。针对集成电路引脚开短路测试要求,本文提出一种基于LK8810平台的集成电路开短路测试方案。该方案具备可操作性强的优点,只需要配合平台搭接简单的测试电路,然后使用C语言编写测试程序就能快速的将一个型号芯片的引脚开短路问题测试出来,并将结果反馈至上位机,使用户能够直观地判别被测芯片的好坏。

Integrated circuit industry has been the key development industry in China. In order to improve the economic efficiency,the IC open/short testing should be carried out first after IC package, so as to screen out the failure chip as soon as possible and shorten the overall test time. According to the requirements of IC open/short testing,this paper presents a testing scheme based on LK8810 platform, you just need to attach a simple test circuit,and write a test program in C language,a particular type of chip will be quickly detected. The test results can also be displayed directly on the PC,and users can also get it very intuitively.

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