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自动化测试序列并行执行模式.docx
资料介绍
LabVIEW并行编程入门推荐388-自动化测试序列并行执行模式
1. 引言：并行测试的效率提升
在电子产品量产测试中，测试时间是决定产能的关键因素。传统的串行测试方式——逐个执行测试用例、逐个测试待测设备（DUT）——已经无法满足现代制造对吞吐量的要求。并行测试通过在多个DUT上同时执行测试、或在单个DUT上并行执行多组测试项，可以大幅缩短总测试时间。LabVIEW配合TestStand和PXI模块化仪器，通过多线程并行调度和资源管理，实现高效的并行自动化测试系统。
2. 并行测试架构
2.1 多DUT并行测试
同时对多个待测设备执行测试：
1. 每个DUT分配独立的测试线程
2. 各线程使用独立的测试资源（如PXI模块）
3. 主控调度器管理各线程的启动和同步
4. 测试结果汇总到中央数据库
LabVIEW TestStand中通过多线程并行执行模型实现，每个DUT对应一个测试线程。
2.2 单DUT多测试项并行
在一个DUT上同时执行多个不相关的测试项：
1. 电源测试：测量电压、电流、纹波
2. 通信测试：验证I2C、SPI、UART接口
3. 数字测试：测试GPIO功能和时序
4. 模拟测试：测量ADC/DAC精度
各测试项使用独立的仪器资源，在LabVIEW中通过并行For循环执行。
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| LabVIEW并行编程入门推荐388-自动化测试序列并行执行模式.docx | 38K |
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