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IGBT瞬态结壳温升计算

更新时间:2019-11-06 09:50:50 大小:300K 上传用户:fwfwjx查看TA发布的资源 标签:igbt瞬态结壳温升 下载积分:1分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

热阻是评价IGBT可靠性的重要指标.寻找简便高精度的测量方法对IGBT热阻进行测试具有十分重要的意义.根据JESD51—14中的瞬态热阻抗定义式,提出了一种可以快速、准确计算IGBT模块结壳热阻的方法

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IGBT态结壳温升计算  
拟 制:  
问题来源:  
报告日期:  
杨建宁  
故障分析  
2007-6-25  
UPS sustaining  

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