积分商城

最新搜索： VISHAY PID 手册 usb2LPT 红外线 HDMI 2.1
您现在的位置是：首页 > 软件 > 基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统

更新时间：2011-09-09 04:00:02 大小：212K 上传用户：lastselang 查看TA发布的资源 标签：基于虚拟仪器技术 下载积分：0分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

·摘要：本文介绍一种手机翻盖耐久性测试系统。该系统由National Instruments 公司的PXI-8186 控制器、PXI-7344、UMI-7764、YASKAWA 公司的SGDL-04AS 伺服单元和SGML-04AF12 伺服电机以及基于虚拟仪器的用户界面组成。该测试系统使用虚拟仪器使系统规模最小化，提高系统的稳定性且易于维护和扩展，操作界面友好。

部分文件列表

文件名文件大小修改时间
基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统/基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统.pdf247KB2009-04-01 23:37:24
基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统/使用说明请参看右侧注释====〉〉.txt1KB2008-04-28 10:27:04
基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统1KB2010-05-04 11:06:40

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

资料专题

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号