推荐星级:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

超大规模集成电路测试技术综述

更新时间:2020-10-25 18:36:01 大小:2M 上传用户:gsy幸运查看TA发布的资源 标签:超大规模集成电路 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着纳米制造技术和集成电路系统的高速发展,超大规模集成电路(VLSI)的内部结构越来越复杂,其测试难度越来越大、测试成本越来越高,本文对目前广泛应用的超大规模集成电路测试技术进行了总结和分类,分析了他们的特性和适用范畴,为今后对VLSI测试技术的研究提供了有效的理论依据。

部分文件列表

文件名 大小
超大规模集成电路测试技术综述.pdf 2M

全部评论(0)

暂无评论

上传资源 上传优质资源有赏金

  • 打赏
  • 30日榜单

推荐下载