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基于微分磁导率检测的信号调理电路
资料介绍
由于应力集中和疲劳损伤会引起铁磁试件微观结构的变化,如晶格点阵位移、位错,将导致微分磁导率发生变化.设计基于微分磁导率检测的信号调理电路来测定极值微分磁导率（最大微分磁导率）,可以通过极值微分磁导率的变化推断反演铁磁构件的应力集中和疲劳损伤程度.
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| 基于微分磁导率检测的信号调理电路.pdf | 133K |
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