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一种基于二分查找的电路选择性加固方案

更新时间：2020-09-10 19:45:10 大小：366K 上传用户：xiaohei1810查看TA发布的资源 标签：二分查找 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

工艺技术进入微米级之后，放射性粒子引起的电路软错误率不断升高，现有加固技术通常会带来较大的面积开销。为了平衡电路面积开销和可靠性，提出了一种新的电路加固平衡指标AF，并基于二分查找替换算法，将电路中的敏感寄存器替换为三模冗余寄存器来有效容忍电路中的软错误。实验结果表明，方案可以使电路平均故障间隔时间（ MTBF）平均增加为原来的181．37％，显著地提高了电路的可靠性。在同样的实验条件下，与其他方案相比，提出的方案能获得更小AF值。

Since technology size has gone into the micron order , the digital circuit soft error problems caused by ra-diation are constantly increasing.However, the existing circuit hardening technology could bring along serious area overhead.To balance the circuit area overhead and reliability, a new circuit hardening balance metrics AF is described in this paper.By using binary search replacement algorithm , the susceptible registers in the circuit are replaced by a triple modular redundancy register.According to the experimental results, the proposed scheme can increase the circuit mean time between failures （ MTBF） in 181.37% in average, which dramatically improves the circuit reliability.Compared with other methods under the s...

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