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基于参数退化的集成电路贮存寿命试验评价
资料介绍
本文介绍了基于参数退化的寿命试验的理论与方法 .通过开展SRAM贮存寿命试验,并对试验数据处理与分析,验证了基于参数退化寿命试验方法与程序,试验系统以及试验数据分析方法的有效性。在有限的试验时间内,经过数据分析建立样品敏感参数退化模型,对样品的贮存寿命进行预计。
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| 基于参数退化的集成电路贮存寿命试验评价.pdf | 2M |
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