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电容式微加速度计专用集成电路温度特性
资料介绍
温度是影响微加速度计性能的一个重要的因素。本文在分析微加速度计系统的基础上,设计并实现了电容式微加速度计专用集成电路,通过软件仿真和实际的温度试验,研究了专用集成电路的温度特性,给出了仿真和实测结果,并进行了相应的对比和分析。实测结果表明:在?40~120℃温度范围内,专用集成电路芯片输出随温度的输出变化为68.75μV/℃,即6.875×10-5。
Temperature is one of the most important elements that affect the performance of micro-accelerometer.Based on the analysis of the micro-accelerometer system,the ASIC(Application specific integrated circuit) for capacitive micro-accelerometer is designed and implemented.With the soft simulation and actual temperature experiment,the temperature characteristic of ASIC is studied,and the simulation and measurement results are presented,compared and analyzed which show that,within-40~120℃,the change of ASIC's output with temperature is 68.75 μV/℃,i.e.6.875×10-5.
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| 电容式微加速度计专用集成电路温度特性.pdf | 322K |
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