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无损检测技术在电子元器件失效分析中的应用

更新时间:2020-05-30 09:07:14 大小:3M 上传用户:songhuahua查看TA发布的资源 浏览次数:96 下载积分:5分 免费领20积分 评价赚积分 (如何评价?) 标签:电子元器件 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

电子元器件的无损检测可以在不破坏芯片使用性能的前提下,对芯片进行失效分析,是保证元器件质量的重要技术手段,本文介绍了红外检测、射线检测、超声检测的原理以及在元器件失效分析中的应用,并给出了相关无损技术在元器件失效分析中的应用实例。

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