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光电器件综合测试评价系统研究和设计
资料介绍
随着发光二极管产业的发展及其对测试手段要求的提高,希望有一种恰当的方法对LED的光、色参数进行测量,并对相关参数的标准化工作做一些有益的探讨,以期提高产品的设计水平和产品性能。本文详细阐述了一个能对探测器光谱响应度,滤光片透过率和LED光、色度参数进行测试的系统的研究方案。 本文开发的这个系统采用光电二极管和光电倍增管作为光电探测传感器,以AT89C51单片机为核心处理器,进行数据采集和现场控制,并通过与PC机发生通信,将数据发回PC机进行进一步的处理,PC可在此基础上对二极管特征参数进行分析和运算,并进而以合适的数据表现方式给出分析结果。 本文主要分为五个章节:第一章绪论,主要阐述了课题的研究背景和意义,并提出了本文所要完成的主要工作。 第二章理论综述,简述了光电二极管光谱响应度和V(λ)匹配评价指数以及LED光、色度参数的测试原理和计算方法,这章是本论文的理论基础。 第三章是硬件系统设计和测试方案,从硬件方面对系统的各个子功能系统进行了细致的阐述,对各个子功能的实现提出了切实可行的解决办法,并根据所构建的硬件系统提出了详细的测试方案。 第四章软件系统设计,根据前一张章所阐述的硬件系统和测试方案,详细叙述了本系统的软件设计方案,对人机界面和交互接口的实现,数据处理算法的实现等作出了详细的剖析。 第五章给出了一些用本课题开发的系统得到的测试结果,并对测试结果进行了分析,并对此系统提出了一些改进的意见。
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资料:bitboy
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