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快速瞬变脉冲群测试 失败原因及对策
资料介绍
介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法，综合其他研究者的成果及笔者的实践
经验，针对快速瞬变脉冲群影响电子产品的不同特点提出了相应的对策方案，以方便电子产品设计人员及电磁
兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。
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| 文件名 | 大小 |
| 快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策.pdf | 638K |
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