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《半导体封装制程与设备材料知识介绍》

更新时间:2018-05-22 09:32:45 大小:7M 上传用户:z00查看TA发布的资源 标签:半导体封装 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(1) 举报

资料介绍

半导体前段晶圆wafer制程

半导体后段封装测试

封装前段(B/G-MOLD)-封装后段(MARK-PLANT)-测试


封装就是將前製程加工完成後所提供晶圓中之每一顆IC晶粒獨立分離,並外接信號線至導線架上分离而予以包覆包装测试直至IC成品。


SMT(表面贴装)

---包括锡膏印刷(Solder paste printing),置件(Chip shooting),回流焊(Reflow),DI水清洗(DI water cleaning),自动光学检查(Automatic optical inspection),使贴片零件牢固焊接在substrate上


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半导体封装制程与设备材料知识介绍-FE.ppt 7M

全部评论(1)

  • 2019-04-12 08:53:21suxindg

    谢谢分享

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