- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
存算一体芯片的测试与良率提升.docx
资料介绍
存算一体芯片的测试与良率提升
1 引言
存算一体芯片的测试面临新的挑战，传统存储芯片的测试方法无法覆盖计算功能。BIST（内置自测试）需要同时测试存储功能和计算功能。本章系统分析存算一体芯片的测试方法、DFT设计和良率提升策略。
2 测试挑战
2.1 计算功能测试
存算一体芯片的计算功能需要验证MAC操作的精度和功能正确性，测试方法不同于传统存储测试。
2.2 模拟电路测试
ADC、模拟计算阵列等模拟电路的测试需要更高的精度和更复杂的测试方法。
3 DFT设计
3.1 测试模式
存算一体芯片的测试模式包括：存储测试模式（验证存储单元）、计算测试模式（验证MAC操作）和混合测试模式（验证存储和计算的协同）。
3.2 BIST
BIST控制器可自动执行测试算法，验证存储功能和计算功能。BIST结果通过JTAG接口输出。
4 良率提升
4.1 冗余修复
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| 存算一体芯片的测试与良率提升.docx | 37K |
最新上传
- 打赏
- 30日榜单
-
tangyu1 打赏1.00元 3天前
-
jjjjkkkkk 打赏1.00元 3天前
-
emlimei 打赏1.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
资料：低频功率放大器的设计.
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
资料：51单片机数字频率计
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
13573902396 打赏1.00元 3天前
-
21下载积分 打赏310.00元 3天前
用户：江岚
-
21下载积分 打赏310.00元 3天前
用户：潇潇江南
-
21下载积分 打赏60.00元 3天前
用户：他山之石可攻玉
-
21下载积分 打赏310.00元 3天前
用户：小猫做电路
-
21下载积分 打赏210.00元 3天前
用户：zhengdai
-
21下载积分 打赏210.00元 3天前
用户：w993263495
-
21下载积分 打赏10.00元 3天前
用户：烟雨
-
21下载积分 打赏60.00元 3天前
用户：gsy幸运
-
21下载积分 打赏70.00元 3天前
用户：铁蛋锅
-
21下载积分 打赏65.00元 3天前
用户：xzxbybd
-
21下载积分 打赏60.00元 3天前
用户：jh0355
-
21下载积分 打赏60.00元 3天前
用户：w178191520
-
21下载积分 打赏20.00元 3天前
用户：jh03551
-
21下载积分 打赏20.00元 3天前
用户：sun2152
-
21下载积分 打赏20.00元 3天前
用户：kk1957135547
-
21下载积分 打赏25.00元 3天前
用户：w1966891335
-
21下载积分 打赏20.00元 3天前
用户：xuzhen1
-
21下载积分 打赏15.00元 3天前
用户：x15580286248
-
21下载积分 打赏25.00元 3天前
用户：pcb
-
21下载积分 打赏20.00元 3天前
用户：bhacker
-
21下载积分 打赏15.00元 3天前
用户：liqiang9090
-
21下载积分 打赏25.00元 3天前
用户：有理想666
-
21下载积分 打赏15.00元 3天前
用户：godbox
-
21下载积分 打赏15.00元 3天前
用户：aetek
-
21下载积分 打赏5.00元 3天前
用户：mulanhk
-
21下载积分 打赏5.00元 3天前
用户：JuneLin61
全部评论(0)