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钼互连材料替代钨的下一代金属互连技术.docx
资料介绍
钼互连材料替代钨的下一代金属互连技术
引言
随着3D NAND堆叠层数突破300层和逻辑芯片进入2nm节点,传统金属互连材料面临日益严峻的电阻率和工艺填充挑战。钨(W)在300层以上3D存储中电阻率急剧上升,且TiN阻挡层挤占了宝贵的垂直空间。钼(Mo)作为替代钨的下一代互连材料,凭借其较低的电阻率(约为钨的60%)、无需TiN阻挡层的优势以及优异的ALD填充性能,成为2026年半导体互连材料领域最受关注的技术方向之一。泛林半导体、默克等国际巨头已开始力推钼互连方案,国内企业也在加速布局。
互连材料的技术需求
先进制程对互连的挑战
随着芯片制程持续微缩,互连线的横截面积不断减小,导致电阻率急剧上升。当互连线宽度接近电子平均自由程(铜约40nm,钨约20nm)时,尺寸效应导致电阻率显著增加。同时,在3D NAND中,随着堆叠层数增加,接触孔的深宽比持续增大,传统钨填充工艺面临填充困难和空洞形成的问题。
在3D NAND 300层以上结构中,钨互连的电阻率较100层时上升超过50%,成为制约存储芯片性能提升的关键瓶颈。
互连材料的性能要求
1. 低电阻率:降低信号传输延迟和功耗
2. 良好的填充能力:在超高深宽比结构中实现无空洞填充
3. 热稳定性:在后续工艺温度下保持结构稳定
4. 抗电迁移:在高电流密度下具有长的使用寿命
5. 与现有工艺兼容:可在现有CVD/ALD设备上实现
钼的物理优势
电阻率优势
钼的体电阻率约5.3μΩ·cm,约为钨(5.6μΩ·cm)的95%,但在薄膜和窄线宽结构中,钼的优势更加明显。在亚10nm线宽下,钼的电阻率可比钨低40%以上,这是因为钼的电子平均自由程(约10nm)比钨(约20nm)更短,尺寸效应的影响较小。
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