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芯片设计中的可测性设计与扫描链插入.docx
资料介绍
芯片设计中的可测性设计与扫描链插入
可测性设计（Design for Test, DFT）是集成电路设计中确保芯片能够有效测试的关键技术。随着芯片规模和复杂度的增加，测试成本在芯片总成本中的占比不断上升。扫描链是最基本的DFT技术，通过将触发器连接成移位寄存器链，在测试模式下可以设置和观察内部状态，显著提高数字电路的可测试性。本文系统分析DFT的基本原理、扫描链结构、测试压缩技术以及边界扫描标准。
DFT的基本概念
DFT的目标
可测性设计的目标包括：
· 提高故障覆盖率：检测更多制造缺陷
· 降低测试成本：减少测试时间和测试数据量
· 简化测试流程：支持自动测试设备
· 诊断能力：定位故障位置
可测试性指标
可测试性用以下指标衡量：
· 可控性：设置内部节点为特定值的难易程度
· 可观测性：观察内部节点状态的难易程度
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