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DAC数字位宽对底噪影响测试
资料介绍
DAC的底噪收到采样时钟,自身热噪,数字躁底等共同作用。这里想通过实验查看数字躁底对DAC底噪的影响,特别是在LTE系统,系统指标要求没有GSM严苛的情况下,是不是可以降低数字链路的位宽,对下行链路处理单元的位宽从16bit降低到更低的bit位宽。
测试主要是基于当前RRU系统所使用的中频DAC芯片DAC38J84,该芯片能满足当前RRU系统对GSM的需求,通过测试希望了解数字躁底对DAC的底噪产生的影响变化趋势。
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DAC数字位宽对底噪影响测试.docx | 1M |
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资料:bitboy
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