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基于CMOS集成电路闩锁效应理论的实践

更新时间:2020-05-22 04:37:34 大小:418K 上传用户:六3无线电查看TA发布的资源 浏览次数:15 下载积分:5分 出售积分赚钱 评价赚积分 ( 如何评价?) 标签:cmos集成电路 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

本文针对CMOS集成电路的闩锁效应产生的原因,结合实际调试过程中的案例,探索芯片内部发生闩锁效应后的故障表现并提出避免方法以及解决方案。

The reason this paper latch CMOS integrated circuits produced actual debugging process cases, failure to explore the performance of the chip after latch and suggests ways to avoid and solutions.

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