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基于CMOS集成电路闩锁效应理论的实践
更新时间：2020-05-22 04:37:34
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资料介绍
本文针对CMOS集成电路的闩锁效应产生的原因,结合实际调试过程中的案例,探索芯片内部发生闩锁效应后的故障表现并提出避免方法以及解决方案。
The reason this paper latch CMOS integrated circuits produced actual debugging process cases, failure to explore the performance of the chip after latch and suggests ways to avoid and solutions.
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| 基于CMOS集成电路闩锁效应理论的实践.pdf | 418K |
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