您现在的位置是:首页 > 教程 > 边扫描测试
推荐星级:
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

边扫描测试

更新时间:2011-05-12 13:57:16 大小:26K 上传用户:guanhaiting查看TA发布的资源 标签:扫描测试 下载积分:1分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的,这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路,以形成全面的电路板级测试协议。

部分文件列表

文件名 大小
boundary_scan.doc 26K

全部评论(0)

暂无评论

上传资源 上传优质资源有赏金

  • 打赏
  • 30日榜单

推荐下载