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面向存算一体芯片的模拟计算阵列中自动测试设备ATE与量产测试程序开发.docx
资料介绍
面向存算一体芯片的模拟计算阵列中自动测试设备ATE与量产测试程序开发
——从测试向量生成到测试数据分析的量产测试方案
引言
自动测试设备（ATE）是存算一体芯片量产测试的核心装备。在存算一体芯片的量产中，ATE需要同时测试模拟电路和数字电路的功能，包括ADC/DAC的精度、存算一体阵列的MAC计算精度和数字处理器的功能。量产测试程序开发需要覆盖所有测试项目，优化测试时间，在保证测试覆盖率的前提下提高测试效率。本文系统分析面向存算一体芯片的模拟计算阵列中ATE与量产测试程序开发方法。
ATE系统架构
ATE硬件组成
ATE系统的硬件组成：
1. 测试头：包含测试通道板，每个通道板提供多个测试通道，支持高速数字信号和模拟信号的生成和测量。
2. 探针台接口：在晶圆级测试中，通过探针卡连接ATE与晶圆上的芯片。
3. 分选机接口：在封装后测试中，通过测试座连接ATE与封装芯片。
4. 电源系统：提供多路可编程电源，满足芯片在不同工作模式下的电压和电流需求。
ATE软件组成
ATE系统的软件组成：
1. 测试程序开发环境：提供图形化或脚本化的测试程序开发工具，支持C/C++、Python或专用的测试描述语言。
2. 测试执行引擎：控制测试流程的执行，包括测试序列调度、参数传递和结果收集。
3. 数据分析系统：对测试数据进行分析，生成良率报告、Bin分布图和参数分布图。
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