推荐星级:
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
ARM-JTAG调试原理
资料介绍
这篇文章主要介绍ARM JTAG调试的基本原理。基本的内容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介绍,在此基础上,结合ARM7TDMI详细介绍了的JTAG调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会,希望对想了解ARM JTAG调试的网友们有所帮助。我个人对ARM JTAG的理解还不是很透彻,在文章中,难免会有偏失和不准确的地方,希望精通JTAG调试原理的大侠们不要拍砖,有什么问题提出来,我一定尽力纠正。同时也欢迎对ARM JTAG调试感兴趣的朋友们一起交流学习
部分文件列表
文件名 | 大小 |
ARM-JTAG调试原理.pdf | 613K |
全部评论(0)