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基于数字处理技术的高速高精度adc动态测试系统设计与实现
资料介绍
本论文设计并实现了一种基于FPGA和数字信号处理的ADC测试方法，即采用数字信号处理的方式，通过FFT将ADC采集信号的时域数据变换到频域，然后从中提取相关信息，通过分析和计算得到ADC动态性能参数。论文根据高速高精度ADC的测试要求，分析了高频模拟信号的传输和匹配方法，讨论了基于FPGA和VerilogHDL语言的高速数字信号捕获、高速数据流存储技术和高速USB数据传输技术，提出了ADC测试系统的总体设计方案。
在研究高速低噪的电路设计技术的基础上，根据ADC测试系统的功能，分别设计高带宽ADC支持模块、高速数据采集模块、低相噪时钟模块、MCU控制电路和电源模块。研究高速系统的电路板设计及EMI/EMC处理方法，绘制了高速ADC动态性能参数测试系统的PCB。设计通过FPGA建立从输入到SRAM的数据通路、FPGA与MCU的通信以及建立从SRAM到USB芯片的数据传输。完成USB接口固件程序的设计，实现数据与PC机的高速传输。在PC机部分，基于Matlab程序，完成ADC测试中的数字信号处理和频域分析算法。
论文通过一款已知性能参数的ADC芯片AD9445作为待测ADC对其进行测试，并将测试结果与该芯片已知性能参数进行对比，得出本文所实现的ADC测试系统具有可行性和正确性的结论。该方法对于ADC动态性能参数的测试，有很好的应用价值。
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资料：bitboy
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