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芯片设计中的晶体管串联与并联组合分析.docx
资料介绍
芯片设计中的晶体管串联与并联组合分析
晶体管的串联和并联组合在模拟集成电路中用于调整等效尺寸、提高耐压和增加驱动能力。串联晶体管在耐压和Cascode结构中应用,并联晶体管在驱动能力和匹配中应用。本文将从串联组合、并联组合、等效尺寸、耐压分析、驱动能力以及应用设计等方面,系统阐述晶体管串联与并联组合的分析方法。
串联组合
晶体管串联在Cascode结构和耐压应用中。
1. 等效尺寸:两个串联的MOSFET(
和
,尺寸相同)的等效宽长比为
,在串联时,等效沟道长度加倍。
2. Cascode结构:Cascode结构在共源管上串联共栅管,在输出阻抗提高时,
,在增益提高时应用。
3. 耐压提高:串联晶体管在高压应用中,在漏源电压分摊在各晶体管中,在耐压提高时,在高压开关中应用。
并联组合
晶体管并联在驱动能力和匹配中应用。
1. 等效尺寸:两个并联的MOSFET(尺寸相同)的等效宽长比为
,在并联时,等效沟道宽度加倍。
2. 驱动能力:并联晶体管在驱动能力提高时,在
时,在功率管中应用。
3. 匹配:并联晶体管在匹配中,在单位晶体管阵列中,在DAC和电流镜中,在匹配精度提高时应用。
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