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贡献者:NIChina 星级:0级
文档说明:本讲座总结过去30年以来自动化测试测量领域的发展趋势,并在此基础上展望新一代基于软件定义的PXI模块化仪器平台的系统架构。同时,结合PXI平台应用于...
发布公司:NI
官方网站:http://www.ni.com/
浏览:6103次 下载:0次 贡献时间:2012-03-20 08:00:00