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多光谱TDICCD测试电路设计与实现
资料介绍
全面评价多光谱TDICCD（Multi-Spectral Time Delay Integration Charge Coupled Device,简称为多光谱TDICCD）器件光电性能必须需要多光谱TDICCD测试电路。测试电路的性能，尤其是噪声水平，会影响CCD器件的参数指标测试结果，因此需要进行测试电路的研制。
本论文针对满足多光谱TDICCD全参数测试问题，以低噪声水平测试电路为主要的研究重点，对系统结构方案、电路硬件及软件设计、参数测试方法进行了详尽的讨论和研究。主要内容为：
1．系统结构方案设计。根据多光谱TDICCD参数测试的指标要求，从降低功耗、减少电磁干扰，降低噪声、优化系统体积等方面出发，从硬件及软件考虑了其参数、结构、可靠性及适用性，确定了测试电路的结构及实现方案。
2．电路硬件设计。对测试电路进行了硬件需求的分解，将其划分为CCD芯片、时序逻辑电路、驱动电路、电平调节电路、信号处理电路、数据传输及采集电路，并分别进行了选型和设计。
3．电路软件设计。为满足多光谱TDICCD全参数测试需求，进行了FPGA和单片机软件设计编程。
4．参数测试。针对测试参数指标进行测试方法研究，完成计算机测试软件设计与编程，对测试电路及CCD器件参数进行了测试。
本论文研制的测试电路，很好的完成多光谱TDICCD的光电性能全面评价，推动了多光谱TDICCD技术的顺利发展。
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