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基于SoC系统的密度分析仪

更新时间:2020-02-22 15:01:48 大小:6M 上传用户:IC老兵查看TA发布的资源 标签:soc密度分析仪 下载积分:3分 评价赚积分 (如何评价?) 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

粉体行业,是一个与人们生活、工作息息相关的行业,人类从事粉体的生产加工有着很长的一段历史时间,人们在生活中亦离不开粉体技术所带来的成果与便利[8]。

    粉体一词最早出现在20世纪50年代初,而对于粉体的应用在石器时代就开始了,古代就有北京周口店的山顶洞人利用赤铁矿粉装饰石珠,随着时间的推移,人们在烧制陶器的原料陶土中添加石英等粉末,以改善陶器的耐热急变性能,仰韶文化时期,人们用赤铁矿、黑锰矿等粉体作颜料制作彩陶,明代宋应星所著的《天工开物》一书中,就对一些原始的粉体加工过程进行了详细的描述,而在当代,粉体工程更是支撑着国民经济的各行各业[8]。

    随着粉体技术的不断发展,人们对粉体的研究不断深入,关于粉体颗粒的测量、表征成为大家研究、关注的焦点,而粉体颗粒的测量主要针对于颗粒的粒度、比表面积、颗粒表面的形貌特征和粉体的真实密度[1][8]。

    在粉体行业中,真密度是各种粉体的基本属性之一,不同的粉体有着不同的密度,其密度的大小与粉体的分子结构等有着密切的关联,影响着粉体的表面特性。在工业生产中,也通过对产品的真密度测定来做其纯度分析。真密度也是矿物的主要属性,它不仅是矿物的重要鉴定特征之一,还是定量决定晶体结构中结构缺陷的数量和晶体结晶程度的重要判据之一[1][3][8],不仅如此,由于物质的宏观表现与其微观粒子的特性性是密切相关的,所以真密度这项指标被广泛的应用于材料科学及其他相关科学领域。

    随着粉体行业的发展,从开始只能勉强生产出粒径在0.1-10μm之间的超细粉体,到能轻松生产出粒径在0.001-0.1μm之间的纳米级粉体材料,都归功于粉体技术在不断的发展、进步,随之而来的[8],如何对粉体进行高效的检测与表征成为一个越来越重要的研究课题,对粉体颗粒的测量、表征是对粉体生产过程进行控制的手段和方法,以往传统的检测手段精度较低,自动化程度不高,信息处理速度低下,测试结果反馈滞后导致无法及时有效的对生产过程进行调整控制等缺点,在一定程度上限制了粉体行业向更高、精、尖的发展[8]。伴随着电子科学、计算机技术的迅猛发展,测量控制仪器的自动化、智能化程度越来越高,将使得各行各业的发展冲破瓶颈。

    基于传统真密度测试方法的一些不足之...

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