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SJ_T 10786-2020 电子元器件详细规范 CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质

更新时间:2023-12-02 16:06:00 大小:4M 上传用户:sun2152查看TA发布的资源 标签:电子元器件 下载积分:9分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

SJ_T 10786-2020 电子元器件详细规范 CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ 本规范按照 GB/T 1.1—2009 给出的规则起草。 本规范是根据GB/T 6346.1101-2015《电子设备用固定电容器 第11-1部分:空白详细规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ》起草的产品详细规范。 本规范代替 SJ/T 10786—1996《电子元器件详细规范 CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平E》 本规范与 SJ/T 10786-1996 相比,主要变化如下: 由于评定水平由E改为EZ,因此样品数调整(见表多)删除稳定性等级“Ⅱ B1 分组中“可弹性”验由D改为ND B1 分组增加“还有解溶剂试验: 4.7“振动”加速度值取整,由“98 m/s?”改为“100 m 4.8“碰接 验加速度值取整,由“390 m/s2”改为“400 m/s 4.105“延气”大压力值取整由“8.5 kPa”为“8 kia 4.12“性”试验时间由2 000 h为1 000 h;依据产品规格,删除“损耗角正切CR>10μF”测试条件: 补充规定.3 中引出试验条件;增加 1.5.1“电容器的标电容器的包装”;抽样案由 IEC 60410:1973 改为 GB/T 282 ND INFORMATION TEO请注意本文件的某些内容能涉及专利。本文件的发布机构个承担识别这些专利的查任。 本规范由全国电子设备用限化技术委员SAC/TC 165)归口。 1.4 1.4 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改)适用于本文件。 GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器 第 1 部分:总规范GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第1 部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB/T 6346.11-2015 电子设备用固定电容器 第 11 部分:分规范:金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流圖定电容器 GB/T 6346.1101—2015 电子设备用固定电容器 第 11-1 部分:空白详细规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ 1.5 标志 1.5.1 通则 电容器和包装的标志应符合GB/T 6346.11-2015中1.6的要求 1.5.2 电容器的标志内容 电容器的标志至少应包括下列内容:a)标称电容量及允许偏差: b)额定直流电压;c)制造年月;d)制造厂商标。 1.5.3 电容器的包装标志 包装上的标志至少应包括下列内容;a)制造厂商标: b)产品型号: c)额定直流电压: d)标称电容量及允许偏差: 数量;f) 生产日期。 1.6订货资料 订购本规范所包括的电容器的订货单,应用明文或代码形式至少应包括下列内容: 标称电容量 a) 标称电容量的允许偏差;c) 额定直流电压: و 详细规范的编号及版本号,以及型号标记: e) 包装说明。 试验项目和性能要求的章条号引自分规范GB/T 6346.11-2015表1及本规范第1章。 检查水平(IL)选自 GB/T 2828.1. 本表中: IL——检查水平;p——周期(月数);n——样品数; ——允许的不合格品数;D——破坏性的;ND——非破坏性的。 *为了用每百万分之几不合格品数(10")来检测产品出厂的质量水平,在100%检验后应进行抽样复验,抽样水平应由制造厂决定。计算10"数值时,任何一个参数失效都应判定为一个不合格项。在一个样本中,存在一个或多只不合格项时,则该批产品应被拒收。 如果制造厂对尺寸测量设有统计过程控制(SPC)程序或其他方法以避免元件超出极限值,则该检验可由生产检验代替。 "如果出现一个不合格品,应使用新的样本重新进行该分组的全部试验,且不允许再有不合格品。在重新试验期间可以继续放行产品。

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SJ_T_10786-2020_电子元器件详细规范_CL11型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器_评定水平EZ.pdf 4M

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