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PIN型InGaAs单元探测器介绍.
资料介绍
基本结构与工作原理
核心结构组成
PIN型InGaAs单元探测器是基于Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体异质结制备的光电探测器,核心结构由P型掺杂区、本征I型吸收区、N型掺杂区三个区域构成,典型的衬底通常选用半绝缘磷化铟(InP),InP衬底同时作为窗口层,因为InP的禁带宽度约为1.35eV,对波长大于1μm的近红外光几乎透明,而吸收区选用铟镓砷(InxGa1-xAs)材料,通过调整铟组分x,InGaAs的禁带宽度可以在0.35eV(对应InAs)到1.42eV(对应GaAs)之间连续调节,工业上最常用的In0.53Ga0.47As组分可以与InP衬底实现晶格匹配,其截止波长约为1.7μm,覆盖了光纤通信最常用的O、C、L三个通信波段,这也是InGaAs单元探测器在光通信领域得到大规模应用的核心原因。
光电转换原理
当入射光子能量大于InGaAs吸收区禁带宽度时,光子被吸收区吸收,激发产生电子-空穴对;在PIN结反偏电压形成的内建电场作用下,电子向N区漂移、空穴向P区漂移,最终被两端电极收集,形成与入射光功率成正比的光电流,完成光电信号的转换。本征I区因为几乎不存在杂质电离,电阻率很高,反偏条件下I区几乎承担了全部的反向电压,大大扩展了耗尽区宽度,既增加了光子吸收效率,又降低了结电容,提升了器件的响应速度。
关键性能参数
PIN型InGaAs单元探测器的性能主要由以下几个核心参数衡量:
响应度
响应度是衡量探测器光电转换效率的核心参数,定义为单位入射光功率产生的光电流大小,单位为A/W。对于组分匹配的InGaAs探测器,在1550nm通信波长下,典型响应度可以达到0.8~1.0A/W,量子效率超过80%;优质器件的量子效率可以接近90%,远高于传统的硅基近红外探测器。
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