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光伏组件PID测试
资料介绍
*What is PID？什么是PID？
Potential-induced degadation（PID）of crystalline silicon solar cells was first observed by Sunpower in
2005
It was found that leakage current through the front glass and encapsulation material leads to accumulation of trapped negative charge on at the surface of the cells.The surface passivation provided by the front surface field of these cells degraded.The fill factor（FF），short-circuit current density（Jsc）and open-circuit voltage（Voc）were significantly reduced.
PID最早是Sunpower在2005年发现的。组件长期在高电压作用下使得玻璃、封装材料之间存在漏电
流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致FF、Jsc、Voc降低，使组件
性能低于设计标准。
$In 2010，NREL and Solon demonstrated that PID is a fundamental risk whenever state-of-the-att p-type crystalline salicon solar cells are used in standard modules at high negative bias在2010年，NREL和Solon证实了无论组件采用何种技术的p型晶硅电池片，组件在负偏压下都有
PID的风险。
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