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JESD47K-2018 Stress-Test-Driven Qualification ofIC
资料介绍
消费级，工业级元器件可靠性验证参考标准。
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| 文件名 | 大小 |
| JESD47K-2018_Stress-Test-Driven_Qualification_of_Integrated_Circuits.pdf | 1M |
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