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一种大规模集成电路测试的修调实现方法
资料介绍
提出了大规模集成电路在晶圆阶段测试中的一种修调实现方法。这种方法的实施,既能使被测试产品质量得到保证,又可以有效节约较多的修调测试时间。它提升了测试效率,降低了产品的测试成本,使产品的竞争力得到有效保障。
In this paper,a trimming method for large scale in teg rated circuits in wafer stage testi ng is implementation of this method not only ensures the quality of the tested products,but also saves more time for adjusting and improves the efficiency of testing,reduces the cost of testing products,and effectively guarantees the competitiveness of products.
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