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STM32芯片静电敏感性测量 AN1181应用参考
资料介绍
本应用笔记介绍了用于确定微控制器器件对 ESD 损坏的敏感性的过程。
必须在设备验收的首次测试期间以及可能影响波形的维修之后执行，并且每年至少执行一
次，除非测试装置供应商有不同的建议。
对于 HBM 和 MM，在连接短路线或者 500 Ω 负载的最多引脚数测试插座上，测试装置都满足
表 1 和表 2 中所有电源等级下的要求。
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| 静电放电敏感性测量.pdf | 299K |
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