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对FPGA配置码点软错误敏感性的细粒度研究(英文)

更新时间：2020-10-30 03:22:31 大小：2M 上传用户：gsy幸运查看TA发布的资源 标签：fpga 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

本文对Xilinx的Virtex-4器件的配置存储器(Configuration RAM,CRAM)做了详尽的错误注入实验.并给出了适用于Virtex-4的逻辑资源与码流对应关系的详细信息,利用这些信息对实验结果进行分析可以找出对电路可靠性影响最大的配置码点.本文用了两种错误模型来评估电路的可靠性,一个模型用来评估持续存在的错误的影响,另一个模型用来评估瞬时错误对应用了重刷写技术的电路的影响.对实验结果的详尽分析为用于FPGA的容错技术的研究提供了新的数据支持.本文的主要贡献包括一个能够进行细粒度定位错误注入的平台、对CRAM中码点翻转造成的影响的详细分析、两个用于评估CRAM中码点翻转效应的指标以及对利用错误注入的数据进行容错技术加强的方法.

This paper presents the results of an extensive fault injection campaign performed on the configuration RAM(CRAM)of Xilinx Virtex-4 presents new information about the mapping of the bits within the frames and uses this information to identify the bits that are most fault models are used,one which models continuous faults and the other which models transitory faults for designs with a background fine-grained analysis of the results provides valuable new data for researchers investigating FPGA protection main contributions of this paper include a fault injection platform,a fine-grained and analytic study of the impact of CRAM upsets,two metrics for assessing the impact of CRAM upsets and a demonstration of how existing FPGA mitigation techniques can be enhanced using fault injection data.

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