积分商城

最新搜索： to-252 C语言 solidworks2020 5630DSA lt9611 ad
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 一种用于筛选高可靠性FPGA的硬件测试电路
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

一种用于筛选高可靠性FPGA的硬件测试电路

更新时间：2020-07-23 11:26:20 大小：313K 上传用户：IC老兵查看TA发布的资源 标签：fpga 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

在空间遥感器电子产品设计中,对电子产品可靠性的要求越来越高,通过老炼试验和其他环境试验,从低等级电子元器件中筛选出符合要求的高等级电子元器件是目前航空航天行业普遍采用的一种方法。提出一种FPGA筛选测试电路,结合老炼试验及抗辐照试验,可从低等级FPGA中筛选出具有高可靠性和抗辐照特性的高等级FPGA芯片。该筛选测试电路在实际应用过程中,能够全面覆盖被筛选FPGA的所有关键电气特性,筛选测试结果能够准确反映被筛选FPGA在老炼试验和抗辐照试验前后的性能变化。

In the product design of space remote sensing electronics,it requires electronic products with s is a widely used method in aerospace industry that selecting the high-level electronic components from the low level electronic components by Burn-In test and the other environmental s paper proposes a Screening Testing Circuit that combined with Burn-In Test and Radiation Exposition Test,it can pick up the components which have the High-Reliability and Radiation Immunity characteristics from the low class practice,this circuit can cover all the FPGA＇s key electrical characters,and the screening test results can show the changes of the selected FPGA＇s performance accurately afte...

部分文件列表

文件名 大小
一种用于筛选高可靠性FPGA的硬件测试电路.pdf 313K

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

资料专题

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号