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手持单探头EMI测试
资料介绍
宽频率范围，多种形状的探头，可以完成几乎所有的电磁场测试任务。
通过移动探头可以检测出磁场的方向和分布，适用于IC引脚区域、滤波电容、EMC器件等的磁场检测；电场近场探头可以检测导体表面产生的电场。
无源探头，可以直接连到频谱分析仪或者示波器的50欧姆输入端，方便检查使用不同手段对磁场或者电流的变化。
使用方便，重量轻，安装快捷。
Langer公司专门为近场测试设计的探头，测试频率高达3GHz，可用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况。
近场测量的目的
近场测量方法得到的信息，能定位干扰源，从而采取相应措施以减少电磁干扰。
EMC标准认证测试，是远场测试。远场测试能给出频率信息，即哪些频点超标了，但是没有位置信息。为了通过测试，需要从源头上来采取措施，所以需要应用近场测量来寻找干扰源。
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| 手持单探头EMI测试.pdf | 4M |
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