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芯片设计中的逻辑等效性检查技术.docx
资料介绍
芯片设计中的逻辑等效性检查技术
一、引言
逻辑等效性检查（LEC）是芯片设计验证中的重要方法，验证两个设计的功能是否一致。LEC在芯片设计流程中广泛应用于验证综合前后的功能等价性、修改前后的功能一致性。
二、LEC的基本原理
2.1 布尔比较
LEC使用布尔代数方法比较两个设计的逻辑功能，通过构建BDD或使用SAT求解器验证等价性。
2.2 关键点匹配
LEC首先在两个设计中匹配关键点，包括寄存器、输入输出端口和黑盒接口。
三、LEC的应用
3.1 RTL与门级网表验证
LEC验证综合后的门级网表与RTL代码的功能等价性，确保综合过程没有引入错误。
3.2 设计修改验证
LEC验证设计修改前后的功能等价性，确保修改没有引入错误。
四、LEC的挑战
容量：大规模芯片的LEC验证需要较大的计算资源。
黑盒：设计中包含黑盒时，LEC无法验证内部逻辑。
五、LEC工具
Synopsys Formality和Cadence Conformal是主流的LEC工具。
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