- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
芯片设计中的可测试性DFT技术详解.docx
资料介绍
芯片设计中的可测试性DFT技术详解
一、引言
可测试性设计（DFT）是芯片设计中的关键技术，在芯片设计阶段插入测试结构，使芯片制造后能够被有效测试，检测制造缺陷。DFT技术对于提高芯片良率、降低测试成本至关重要。
二、扫描链测试
2.1 扫描链原理
扫描链测试将芯片中的所有寄存器连接为扫描链，在测试模式下，测试向量通过扫描链串行加载到寄存器中，然后捕获电路响应，再通过扫描链串行输出。
2.2 扫描链设计
扫描链设计包括扫描寄存器的替换、扫描链的连接和测试时钟的生成。扫描链的数量和长度影响测试时间和测试功耗。
三、边界扫描测试
3.1 JTAG标准
边界扫描测试遵循IEEE 1149.1标准，在芯片的I/O引脚和内部逻辑之间插入边界扫描单元，通过JTAG接口控制。
3.2 边界扫描的应用
边界扫描测试用于测试PCB的焊接质量和芯片互连，在系统级测试中广泛应用。
四、内置自测试
4.1 存储器BIST
存储器BIST在芯片内部集成了测试模式生成器和响应分析器，自动测试片上存储器的功能。
4.2 逻辑BIST
部分文件列表
| 文件名 | 大小 |
| 芯片设计中的可测试性DFT技术详解.docx | 37K |
最新上传
- 打赏
- 30日榜单
-
21下载积分 打赏310.00元 2天前
用户：江岚
-
21下载积分 打赏310.00元 2天前
用户：潇潇江南
-
21下载积分 打赏60.00元 2天前
用户：他山之石可攻玉
-
21下载积分 打赏310.00元 2天前
用户：小猫做电路
-
21下载积分 打赏210.00元 2天前
用户：zhengdai
-
21下载积分 打赏210.00元 2天前
用户：w993263495
-
21下载积分 打赏10.00元 2天前
用户：烟雨
-
21下载积分 打赏60.00元 2天前
用户：gsy幸运
-
21下载积分 打赏70.00元 2天前
用户：铁蛋锅
-
21下载积分 打赏65.00元 2天前
用户：xzxbybd
-
21下载积分 打赏60.00元 2天前
用户：jh0355
-
21下载积分 打赏60.00元 2天前
用户：w178191520
-
21下载积分 打赏20.00元 2天前
用户：jh03551
-
21下载积分 打赏20.00元 2天前
用户：sun2152
-
21下载积分 打赏20.00元 2天前
用户：kk1957135547
-
21下载积分 打赏25.00元 2天前
用户：w1966891335
-
21下载积分 打赏20.00元 2天前
用户：xuzhen1
-
21下载积分 打赏15.00元 2天前
用户：x15580286248
-
21下载积分 打赏25.00元 2天前
用户：pcb
-
21下载积分 打赏20.00元 2天前
用户：bhacker
-
21下载积分 打赏15.00元 2天前
用户：liqiang9090
-
21下载积分 打赏25.00元 2天前
用户：有理想666
-
21下载积分 打赏15.00元 2天前
用户：godbox
-
21下载积分 打赏15.00元 2天前
用户：aetek
-
21下载积分 打赏5.00元 2天前
用户：mulanhk
-
21下载积分 打赏5.00元 2天前
用户：JuneLin61
-
21下载积分 打赏5.00元 2天前
用户：ccc6188
-
21下载积分 打赏5.00元 2天前
用户：木集盒
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏3.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏10.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏8.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
-
21ic小能手 打赏5.00元 3天前
全部评论(0)